利用X射线反射谱检验广义相对论:Konoplya-Rezzolla-Zhidenko参数化
广义相对论与量子宇宙学
2021-01-13 v3 高能天体物理现象
摘要
X射线反射谱是在强场区域检验广义相对论的一项极具前景的技术,因为它可以用来检验Kerr黑洞假设。在此背景下,Konoplya、Rezzolla与Zhidenko(Phys. Rev. D93, 064015, 2016)提出的参数化变形黑洞度规构成了一类重要的非Kerr黑洞。我们在 \textsc{relxill\_nk} 中实现了这类黑洞度规,这是我们开发的一个利用X射线反射谱检验非Kerr黑洞的框架。我们对领先阶强场变形参数对典型可观测量(如最内稳定圆轨道和反射谱)的影响进行了定性分析。我们还利用 Ark~564 中超大质量黑洞的 \textit{Suzaku} 数据,首次给出了该度规部分变形参数的X射线约束,并将其与从引力波和黑洞成像等其他观测技术获得(或预期)的约束进行了比较。
引用
@article{arxiv.1903.12119,
title = {Testing General Relativity with X-ray reflection spectroscopy: The Konoplya-Rezzolla-Zhidenko parametrization},
author = {Sourabh Nampalliwar and Shuo Xin and Shubham Srivastava and Askar B. Abdikamalov and Dimitry Ayzenberg and Cosimo Bambi and Thomas Dauser and Javier A. Garcia and Ashutosh Tripathi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1903.12119},
year = {2021}
}
备注
Minor updates. Published at Phys. Rev. D 102, 124071 (2020)