用于关联显微术中自动配准的计算机可读图像标记 autoCRIM
材料科学
2020-12-01 v1
摘要
我们提出一种新开发的方法，利用计算机可读基准标记使来自多种成像模态的图像能够自动配准。该方法使得将多种表面成像技术所得图像相关联成为可能，从而提供纳米尺度上任一单独技术均无法给出的前所未有之表面细节水平。该方法具备在样品于仪器间无缝转移时导航至特定感兴趣区域的能力。随后，采集来自扫描电子显微镜（SEM）、二次离子质谱（SIMS）、X射线光电子能谱（XPS）、原子力显微镜（AFM）及光学检测工具的数据，并将所有所获数据结合，进而生成表面的三维数据表征模型。
引用
@article{arxiv.2011.14949,
title = {Computer-readable Image Markers for Automated Registration in Correlative Microscopy autoCRIM},
author = {J. Sheriff and I. W. Fletcher and P. J. Cumpson},
journal= {arXiv preprint arXiv:2011.14949},
year = {2020}
}