专用于纳米级厚度 hBN 层的表征方法
材料科学
2016-10-24 v1
摘要
六方氮化硼（hBN）作为石墨烯工程和由二维材料构建的范德华异质结构中的战略组件，重新受到关注。因此，掌握能够评估所用 hBN 材料结构和电子性质质量的可靠表征技术至关重要。我们在此介绍基于光学光谱学的表征程序，即阴极发光和拉曼光谱，并辅以透射电子显微镜进行的结构分析。我们展示了光学光谱学在调查和基准测试各种 hBN 薄膜来源的光学和结构性质方面的能力。
引用
@article{arxiv.1610.06858,
title = {Characterization methods dedicated to nanometer-thick hBN layers},
author = {Leonard Schue and Ingrid Stenger and Frederic Fossard and Annick Loiseau and Julien Barjon},
journal= {arXiv preprint arXiv:1610.06858},
year = {2016}
}