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拓扑绝缘体和拓扑超导体的边界与缺陷临界性

强关联电子 2025-07-23 v2 统计力学 高能物理 - 理论

摘要

我们研究由边界费子子引发的边界临界性,这在拓扑物质的相中普遍出现,主要关注拓扑绝缘体和拓扑超导体。通过采用尺度正则化和 bosonization 技术,我们发现了几种前所未有的边界普适类,包括边界 Gross-Neveu-Yukawa 临界点和特殊 Berezinskii-Kosterlitz-Thouless (BKT) 相变,这两者均源于边缘模式与 bulk 玻色子之间的相互作用。我们呈现了一个涵盖这些边界临界性的综合相图,并阐明了它们的临界指数。此外,我们探讨了一个装饰有费子子的 1+1D 共形缺陷,其中突显了缺陷 BKT 相变。我们以讨论这些现象的潜在实验实现方式作结。

关键词

引用

@article{arxiv.2407.15916,
  title  = {Boundary and defect criticality in topological insulators and superconductors},
  author = {Xiaoyang Shen and Zhengzhi Wu and Shao-Kai Jian},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2407.15916},
  year   = {2025}
}

备注

4.4 pages + supplemental material, 2 figures, 1 table