利用极大似然方法对超暗条纹的盲检测
天体物理仪器与方法
2016-09-26 v1 空间物理
摘要
我们开发了一种极大似然源检测方法，能够检测表面亮度比像素级噪声暗约一个数量级的超暗条纹。我们的极大似然检测方法是一种基于模型的方法，不需要关于条纹位置、方向、长度或表面亮度的任何先验知识。该方法使得发现通常未被探测到的天体成为可能，并能够利用低成本传感器（即更高噪声的数据）。该方法还便于进行多历元叠加。我们将展示该方法应用于模拟以及真实低地球轨道观测的结果。
引用
@article{arxiv.1609.07158,
title = {Blind Detection of Ultra-faint Streaks with a Maximum Likelihood Method},
author = {William A. Dawson and Michael D. Schneider and Chandrika Kamath},
journal= {arXiv preprint arXiv:1609.07158},
year = {2016}
}
备注
11 pages, 7 figures, contribution to the Advanced Maui Optical and Space Surveillance Technologies Conference 2016