单步光发射理论中的能带图测量：最终态的多布洛赫波结构及干涉效应
材料科学
2009-11-11 v1
摘要
我们在扩充平面波理论框架内发展了一种基于布洛赫波的单步光发射理论。阐述了多布洛赫波结构对能带图测量的影响。初始态和最终态中布洛赫分量之间的干涉导致了具有特征频率色散的显著光谱特征，这些特征在实验中观察到 VSe_2 和 TiTe_2 中。干涉效应以及最终态非自由电子性质强烈限制了常规直接转移能带图测量方法的适用性，使得单步分析工具至关重要。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0601647,
title = {Band Mapping in One-Step Photoemission Theory: Multi-Bloch-Wave Structure of Final States and Interference Effects},
author = {E. E. Krasovskii and V. N. Strocov and N. Barrett and H. Berger and W. Schattke and R. Claessen},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0601647},
year = {2009}
}
备注
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