光反射谱在光伏先进多层结构中的应用

D. Fuertes Marrón; E. Cánovas; I. Artacho; C. R. Stanley; M. Steer; T. Kaizu; Y. Shoji; N. Ahsan; Y. Okada; E. Barrigón; I. Rey-Stolle; C. Algora; A. Martí; A. Luque

光反射谱在光伏先进多层结构中的应用

材料科学 2012-12-05 v1

作者: D. Fuertes Marrón , E. Cánovas , I. Artacho , C. R. Stanley , M. Steer , T. Kaizu , Y. Shoji , N. Ahsan , Y. Okada , E. Barrigón , I. Rey-Stolle , C. Algora , A. Martí , A. Luque

在 arXiv 上查看 ↗ PDF ↗

摘要

光反射谱 (PR) 是一种便捷的表征工具，能够揭示半导体材料和结构的光电特性。它是一种简单、无损且非接触的技术，可在室温空气中使用。我们将展示利用 PR 对不同种类先进光伏 (PV) 结构进行表征的实验结果，包括基于量子点的中间带太阳能电池原型、量子阱结构、高失配合金以及基于 III-V 族的多结器件，从而证明 PR 作为一种强大诊断工具的适用性。我们将举例说明该光谱技术对 PV 的价值，包括：(i) 分析 PR 光谱以寻找与吸收起始相关的临界点；(ii) 区分源自量子限域的特征信号与源自离域能带态的特征信号；(iii) 根据 Franz-Keldysh (FK) 理论确定与界面处内建电势相关的电场强度；以及 (v) 确定不同振荡 PR 信号的性质，这些信号归因于 FK 振荡、干涉效应和光折变效应。本文旨在引起光伏领域研究人员对调制光谱学的兴趣，因为它们在器件分析中大有裨益。

关键词

光反射谱光伏半导体表征量子点量子阱高失配合金多结器件 Franz-Keldysh 效应

引用

@article{arxiv.1212.0680,
  title  = {Application of photoreflectance to advanced multilayer structures for photovoltaics},
  author = {D. Fuertes Marrón and E. Cánovas and I. Artacho and C. R. Stanley and M. Steer and T. Kaizu and Y. Shoji and N. Ahsan and Y. Okada and E. Barrigón and I. Rey-Stolle and C. Algora and A. Martí and A. Luque},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1212.0680},
  year   = {2012}
}

备注

28 pages, 13 figures; a shortened version accepted for publication in Mat. Sci. & Eng. B

光反射谱在光伏先进多层结构中的应用

摘要

关键词

引用

备注

相关论文