Co/YBCO 结的安德烈夫反射与自旋极化测量

我们报道了对结面积为 1 $\mu$m 直径的 Co/Y$_{1}$Ba$_{2}$Cu$_{3}$O$_{7-\delta}$ (YBCO) 异质结构样品进行的温度依赖性安德烈夫反射测量。根据修正的 Blonder-Tinkham-Klapwijk 理论对 5-70 K 的电导率数据进行建模，得出 Co 薄膜中的自旋极化率为 34%，且在高达 70 K 时几乎保持恒定。YBCO 薄膜是通过脉冲激光沉积在蓝宝石衬底上生长的。Co 薄膜通过热蒸发沉积在 YBCO 上。通过粉末 X 射线衍射测量对薄膜进行了表征，结果显示 YBCO 沿 (001) 方向生长。在零场和 77 K 下沉积 Co 后，YBCO 中的临界电流密度 $5 \times 10^{6}$ A/cm$^{2}$ 基本保持不变。