通过安德烈夫谱测量n型共掺杂ZnO薄膜中的自旋极化输运电流
材料科学
2016-09-08 v2
摘要
我们使用点接触安德烈夫反射测量来确定脉冲激光沉积的含1% Al以及含和不含2% Mn的ZnO薄膜中输运电流的自旋极化率。只有含Mn的薄膜具有铁磁性，并在4.2 K下显示出高达55 ± 0.5%的输运电流自旋极化率，这与不含Mn的非磁性薄膜的测量结果形成鲜明对比，后者的极化率一致为零。我们的结果强烈表明，这些Al掺杂ZnO薄膜中的铁磁性需要Mn的存在。
引用
@article{arxiv.0911.3258,
title = {Spin polarized transport current in n-type co-doped ZnO thin films measured by Andreev spectroscopy},
author = {Karen A Yates and Anthony J Behan and James R Neal and David. S. Score and Harry. J Blythe and Gillian A Gehring and Steve. M. Heald and Will. R. Branford and Lesley F Cohen},
journal= {arXiv preprint arXiv:0911.3258},
year = {2016}
}
备注
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