In₂O₃薄膜中的铁磁性与自旋极化载流子
材料科学
2015-05-13 v1
摘要
我们给出了In₂O₃薄膜中存在自旋极化载流子的证据。真空退火后，In₂O₃和Cr掺杂In₂O₃薄膜均表现出室温铁磁性，饱和磁矩约为0.5 emu/cm³。我们利用点接触安德烈夫反射测量直接确定了自旋极化率，发现两种成分的自旋极化率均约为50±5%。这些结果与某些氧化物半导体中观察到的铁磁性可能由载流子介导的观点一致。
引用
@article{arxiv.0808.1123,
title = {Ferromagnetism and spin polarized charge carriers in In$_{2}$O$_{3}$ thin films},
author = {Raghava P. Panguluri and P. Kharel and C. Sudakar and R. Naik and R. Suryanarayanan and V. M. Naik and A. G. Petukhov and B. Nadgorny and G. Lawes},
journal= {arXiv preprint arXiv:0808.1123},
year = {2015}
}
备注
5 pages 5 figures