利用超导铜氧化物针尖对半金属CrO₂薄膜的安德烈夫纳米探针研究
超导电性
2015-05-30 v1
摘要
使用YBa₂Cu₃O₇₋ₓ超导针尖对半金属CrO₂薄膜进行了点接触安德烈夫反射谱学测量。在4.2K下，观测到d波安德烈夫反射特征的强烈抑制，这与CrO₂的高自旋极化率一致。通过与非磁性Au薄膜的数据以及超导Pb针尖获得的数据进行比较，验证了本技术的可靠性。点接触尺寸估计为≲10nm，证实了其弹道输运与微观特性。结果表明，利用超导铜氧化物针尖作为铁磁体的自旋敏感纳米探针具有可行性。
引用
@article{arxiv.1110.5010,
title = {Andreev nanoprobe of half-metallic CrO$_{2}$ films using superconducting cuprate tips},
author = {C. S. Turel and I. J. Guilaran and P. Xiong and J. Y. T. Wei},
journal= {arXiv preprint arXiv:1110.5010},
year = {2015}
}
备注
To appear in Applied Physics Letters; 4 pages, 4 figures