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弹性基底上异质外延生长2+1维连续模型的解析验证

偏微分方程分析 2017-02-06 v2

摘要

获得了由W.T. Tekalign和B.J. Spencer在{\cite{TS}}中引入的演化方程 ht=Δ[F1(aEF(h))r/h2Δh]h_t=\Delta[ \mathcal{F}^{-1}(-aE \mathcal{F}(h)) - r/h^2 -\Delta h ] 的解析验证,该方程用于描述弹性基底上二维薄膜的异质外延生长。在上述表达式中,hh 表示薄膜的表面高度,F\mathcal{F} 是傅里叶变换,aaEErr 为正材料常数。在关于初始数据的适当假设下,证明了弱解的存在性、唯一性以及时间上的Lipschitz正则性。

关键词

引用

@article{arxiv.1604.08884,
  title  = {Analytical validation of a 2+1 dimensional continuum model for epitaxial growth with elastic substrate},
  author = {Elisa Davoli and Xin Yang Lu},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1604.08884},
  year   = {2017}
}

备注

This paper has been withdrawn due to major changes