电子场发射体阵列的斜率 - 截距图分析
介观与纳米尺度物理
2013-10-16 v2 材料科学
摘要
在电子场发射实验中，通过 Fowler-Nordheim 分析获得的斜率与截距图通常呈现出线性关系，这在单尖端或尖端阵列中普遍存在。本文通过对包含多个尖端的样品进行模拟，表明这种观测到的线性关系源于输入参数的分布，假设每个尖端的半径服从对数正态分布。通常，斜率 - 截距图中从左下到右上的偏移被认为与功函数的变化相关。然而，正如本文所示，同样的效应也可能由发射体数量的变化引起。
引用
@article{arxiv.1307.0512,
title = {Analysis of slope-intercept plots for arrays of electron field emitters},
author = {Arun Persaud},
journal= {arXiv preprint arXiv:1307.0512},
year = {2013}
}