研究单轴应力对纳米器件影响的开源平台
介观与纳米尺度物理
2017-06-07 v1 材料科学
仪器与探测器
摘要
我们提出了一种自动测量平台，能够通过电输运和光学光谱作为单轴应力的函数来表征纳米器件。我们提供了对机械装置、衬底设计与制备以及仪器控制软件的深入见解和详细描述，该软件以开源许可提供。该平台的能力通过结合电输运和拉曼光谱表征InAs纳米线器件的压阻来展示。通过与InAs纳米线中最先进的压阻测量相比较，突显了该测量平台的优点。我们设想，该方法学的系统应用将为纳米器件和新型电子材料的物理提供新见解，从而有助于评估应变作为纳米电子学技术推动者的潜力。
引用
@article{arxiv.1704.01394,
title = {An open-source platform to study uniaxial stress effects on nanoscale devices},
author = {G. Signorello and M. Schraff and P. Zellekens and U. Drechsler and M. Buerge and H. R. Steinauer and R. Heller and M. Tschudy and H. Riel},
journal= {arXiv preprint arXiv:1704.01394},
year = {2017}
}
备注
6 figures, 19 pages; Submitted to Review of Scientific Instruments