NAND闪存的自适应读取阈值
信息论
2022-02-14 v1 math.IT
摘要
NAND闪存读取时间增加的一个主要来源是：在噪声存在的情况下，闪存介质必须使用不同读取阈值电压多次读取才能使译码器成功。本文提出一种算法，使用有限次数的重读来刻画噪声分布并恢复存储信息。考虑了硬译码与软译码。对于硬译码，本文试图找到使误比特率（BER）最小的读取阈值，并推导了所得码字错误率的表达式。对于软译码，它表明在允许重读次数有限的情况下，最小化BER与最小化码字错误率是相互竞争的目标，并提出了两者之间的折衷。所提方法不需要任何关于噪声分布的先验知识，但在可用时可利用此类信息。每个读取阈值根据先前读取的结果选择，遵循通过动态规划逆向递归导出的最优策略。该方法和结果从各电平为高斯噪声的SLC闪存角度进行研究，但文中解释了该方法如何扩展到其他场景。
引用
@article{arxiv.2202.05661,
title = {Adaptive Read Thresholds for NAND Flash},
author = {Borja Peleato and Rajiv Agarwal and John Cioffi and Minghai Qin and Paul H. Siegel},
journal= {arXiv preprint arXiv:2202.05661},
year = {2022}
}