一种用于1.55 μm处二维材料光学折射率识别的半经验集成微环腔方法
应用物理
2019-12-24 v2 材料科学
摘要
原子级薄的二维（2D）材料提供了一系列具有独特性质的基本构建模块，使其成为与成熟芯片平台异质集成以推进光通信技术的理想选择。然而，由于横向薄片尺寸较小，控制和理解这些材料光学折射率的精确值具有挑战性。在此，我们展示一种半经验方法，通过将几层MoTe2集成到微环谐振器上，确定2D材料在电信相关波长附近的折射率（nMoTe2为4.36+0.011i）。2D材料与集成光子学的放置、控制和光学性质理解为进一步研究基于有源2D材料的光电子器件与电路铺平了道路。
引用
@article{arxiv.1811.05323,
title = {A semi-empirical integrated microring cavity approach for 2D material optical index identification at 1.55 {\mu}m},
author = {Rishi Maiti and Rohit A. Hemnani and Rubab Amin and Zhizhen Ma and Mohammad H. Tahersima and Tom A. Empante and Hamed Dalir and Ritesh Agarwal and Ludwig Bartels and Volker J. Sorger},
journal= {arXiv preprint arXiv:1811.05323},
year = {2019}
}
备注
arXiv admin note: substantial text overlap with arXiv:1807.03945