用于 NRAM 结构中分层缺陷容忍技术的范围匹配 CAM
硬件体系结构
2019-07-11 v1
摘要
由于纳米器件尺寸微小，其极易受工艺扰动影响而导致制造缺陷。其中部分缺陷随机分布于整个纳米器件层，其他扰动则趋于局部化并引发由层间整合不良和线宽变化等因素导致的簇状缺陷。本文提出一种从随机缺陷中辨识簇状缺陷的方法。其动机在于利用范围匹配内容寻址存储器（RM-CAM）中的矩形范围修复簇状缺陷，并利用三模冗余（TMR）修复随机缺陷。我们认为，这两种方法的结合能以更少资源更有效地修复高错误率下的缺陷。借助所提故障修复技术，我们考察了不同故障分布场景下的缺陷恢复结果。同时给出了两个概念性的 32*32 与 64*64 位 RAM 所需的映射电路结构，并报告了它们的速度、功耗与晶体管数量。
引用
@article{arxiv.1907.04504,
title = {A Range Matching CAM for Hierarchical Defect Tolerance Technique in NRAM Structures},
author = {Hossein Pourmeidani and Mehdi Habibi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1907.04504},
year = {2019}
}