32 位存储器中汉明码组合的探索与分析
硬件体系结构
2023-07-14 v2
摘要
降低电子器件的阈值电压会显著增加其对电磁辐射的灵敏度，从而提高存储器单元内容改变的概率。设计人员使用诸如纠错码（ECC）等技术来保持信息完整性，从而缓解故障。尽管已有若干关于空间应用存储器中 ECC 使用的研究，但在选择 ECC 类型及其在存储器中的组织方式上仍无共识。本工作分析了应用于 32 位存储器的若干汉明码配置，以便将这些存储器用于空间应用。本工作提出使用三类汉明码：Ham(31,26)、Ham(15,11) 和 Ham(7,4)，以及这些码的组合。我们采用 36 种错误模式（从一位到四位翻转）来分析这些码。实验结果表明，包含五位冗余的 Ham(31,26) 配置获得了最高的单错纠正率，近 97%，其二、三、四位错误纠正率分别为 78.7%、63.4% 和 31.4%。而一种包含四个 Ham(7,4)（使用十二位冗余）的 ECC 配置仅能纠正 87.5% 的单错。
引用
@article{arxiv.2306.16259,
title = {Exploration and Analysis of Combinations of Hamming Codes in 32-bit Memories},
author = {David Freitas and David Mota and Clailton Lopes and Daniel Simões and Jarbas Silveira and João Mota and César Marcon},
journal= {arXiv preprint arXiv:2306.16259},
year = {2023}
}