一种用于超分辨显微镜的随机化多元矩阵 pencil 方法
数值分析
2018-05-17 v2
摘要
矩阵 pencil 方法是一种基于特征值的稀疏指数和参数辨识方法。我们推导了一种基于同时对角化的多元指数和重构算法。利用随机化并将其量化，可将同时对角化简化为单个随机矩阵的特征值分解。为验证可行性，该算法被应用于合成及实验荧光显微镜数据。
引用
@article{arxiv.1805.02485,
title = {A Randomized Multivariate Matrix Pencil Method for Superresolution Microscopy},
author = {Martin Ehler and Stefan Kunis and Thomas Peter and Christian Richter},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.02485},
year = {2018}
}