长聚合物的随机环模型

虽然染色质在小于 30 nm 长度尺度上的结构已被详细研究，但关于间期染色质的高阶折叠基序却知之甚少。最近的实验证据表明，折叠可能局部依赖于基因密度和转录活性，并在长距离处表现出饱和现象，即近似满足 $<R^2> \sim O(1)$。我们提出了一种新模型，通过随机环的形成来解释这种饱和现象。我们推导了两珠之间均方位移的解析表达式，其中平均值是在固定但随机的环构型下对热系综取的，而对不同环构型系综的淬火平均（结果证明等价于对随机矩阵系综的平均）则是数值进行的。对该模型的详细研究表明，所有尺度的环对于拟合实验数据都是必要的。