薄膜超导体电流映射反问题的一种新方法
超导电性
2018-07-19 v1
摘要
我们发展了一种新颖的数学方法，利用成熟的磁光成像技术，从垂直磁场分量的测量中在一维和二维情形下完成毕奥-萨伐尔定律的反演。我们的方法，尤其在二维情形下，被详尽给出以便直接实现，有别于文献中的方法。我们的新方法也改进了先前一维情形的结果 [Johansen 等, Phys. Rev. B 54, 16264 (1996)]，并精简了 Jooss 等 [Physica C 299, 215 (1998)] 所发展的方法——若与 Roth 等 [J. Appl. Phys. 65, 361 (1989)] 相比，该方法被认为最精确。我们也验证并精简了迭代技术，该技术由 Laviano 等 [Supercond. Sci. Technol. 16, 71 (2002)] 发展，用于考虑由退磁效应引起的外加磁场弯曲所导致的面内磁场。在高质量 YBa2Cu3O7 超导薄膜的磁光图像上测试后，我们表明所采用的流程是有效的。
引用
@article{arxiv.1807.06750,
title = {A new approach to the inverse problem for current mapping in thin-film superconductors},
author = {J. W. Zuber and F. S. Wells and S. A. Fedoseev and T. H. Johansen and A. B. Rosenfeld and A. V. Pan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1807.06750},
year = {2018}
}