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结合快速扫描量热法的低背景原位X射线全散射装置

仪器与探测器 2025-09-11 v3 材料科学

摘要

我们展示了一套在同步辐射光束线上将快速扫描量热法与X射线全散射相结合的装置,可在温度扫描期间及之后对样品的纳米尺度结构进行\emph{原位}表征。该装置配备了一个便携式真空腔,即使在非晶样品上也能提供高信噪比,从而能够观察不同样品状态之间的详细结构变化。我们展示了三个用例,其中一个利用了该装置可实现的10410^4\,K/s的高冷却速率。我们的演示为材料科学领域的各种应用打开了大门,在这些应用中,理解结构与热力学之间的相互作用至关重要。

关键词

引用

@article{arxiv.2503.09183,
  title  = {A low-background setup for in-situ X-ray total scattering combined with fast scanning calorimetry},
  author = {Peihao Sun and Jacopo Baglioni and Beatrice Baraldi and Weilong Chen and Daniele Lideo and Lara Piemontese and Francesco Dallari and Marco Di Michiel and Giulio Monaco},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2503.09183},
  year   = {2025}
}

备注

17 pages, 7 figures