一类用于快速比较持久图的拓扑伪距离
计算几何
2024-02-23 v1 计算机视觉与模式识别
机器学习
代数拓扑
摘要
持久图(PDs)在拓扑数据分析中起着核心作用,并应用于日益多样的场景中。比较 PD 数据需要计算大型 PD 集合之间的比较度量,这些度量需具备准确性、理论可靠性且计算迅速。特别是对于更密集的多维 PDs,此类比较度量尚显缺乏。一方面,Wasserstein 型距离具有高准确性和理论保证,但计算成本高昂。另一方面,向量化之间的距离(如持久统计量(PSs))计算成本较低,但缺乏准确性保证,且通常无法保证区分不同的 PDs(即不同 PDs 的两个 PS 向量可能相等)。在本工作中,我们引入了一类称为扩展拓扑伪距离(ETDs)的伪距离,其复杂度可调,在高复杂度极端情况下可近似切片 Wasserstein 距离和经典 Wasserstein 距离,而在低复杂度极端情况下计算量更轻且接近持久统计量,从而允许用户在两种度量之间进行插值。我们构建了理论比较,以展示如何将我们的新距离拟合在持久向量化和 Wasserstein 距离之间的中间水平。实验验证也表明,ETDs 在准确性方面优于 PSs,在计算复杂度方面优于 Wasserstein 距离和切片 Wasserstein 距离。
引用
@article{arxiv.2402.14489,
title = {A Class of Topological Pseudodistances for Fast Comparison of Persistence Diagrams},
author = {Rolando Kindelan Nuñez and Mircea Petrache and Mauricio Cerda and Nancy Hitschfeld},
journal= {arXiv preprint arXiv:2402.14489},
year = {2024}
}
备注
Accepted for presentation and poster on the 38th Annual AAAI Conference on Artificial Intelligence (AAAI24)