用于医疗设施中硅传感器与电子器件 TID 研究的 X 射线工艺辐照
仪器与探测器
2022-06-13 v1 高能物理 - 实验
医学物理
摘要
总电离剂量（TID）效应的工艺测试不仅对于高能物理实验中开发的硅粒子传感器是必需的，对于商业、汽车和空间应用中使用的电子器件及半导体元件同样必需。使用 X 射线辐照器，这些工艺测试与研究不仅可在专门为此建造的设施中进行，也可在满足某些最低要求的医疗或生物研究设施中开展。通常该辐照可在不干扰设施医疗与生物活动的情况下进行。本文将描述此类研究所需的最低仪器要求，并详细描述 2021 年 5 月在意大利 TIFPA-INFN Trento Center Laboratory 使用最初为医疗与生物辐照而研制的仪器所实现的用于 TID 表征的 SiPM X 射线辐照活动之准备与实施。
引用
@article{arxiv.2206.05119,
title = {X-ray technological irradiation for TID studies on silicon sensor and electronic devices in a medical facility},
author = {Benedetto Di Ruzza},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.05119},
year = {2022}
}
备注
4 pages, 1 figure, proceeding of the Proceedings of the African Conference on Fundamental and Applied Physics