X 射线干涉效应对超薄 La2/3Sr1/3MnO3 外延薄膜结构数据测定的影响
材料科学
2013-01-29 v1
摘要
我们分析了用于提取紧密匹配衬底上超薄薄膜晶胞参数的 X 射线衍射数据。我们聚焦于在 (001) SrTiO3 单晶衬底上生长的外延 La2/3Sr1/3MnO3 薄膜。将表明，由于薄膜和衬底极高的结构相似性，数据分析必须明确考虑衬底和薄膜衍射波的不同相位，才能提取可靠的晶胞参数。我们将强调这一发现对于理解超薄薄膜和界面中应变效应的重要意义。
引用
@article{arxiv.1301.6649,
title = {X-ray interference effects on the determination of structural data in ultrathin La2/3Sr1/3MnO3 epitaxial thin films},
author = {D. Pesquera and R. Bachelet and G. Herranz and J. Fontcuberta and X. Marti and V. Holy},
journal= {arXiv preprint arXiv:1301.6649},
year = {2013}
}