分子结中充电与放电过程间的等待时间

当电流通过分子结时，分子通过隧穿电子不断地充电和放电。这些充电和放电事件发生在特定但随机的时刻，并由随机的时间间隔隔开。这些时间间隔可与电荷（电子或空穴）停留在分子上的停留时间相关联。本文研究了这些时间间隔的统计性质，并推导了其分布的一般公式。该理论基于马尔可夫主方程，其考虑了结中带电与中性分子的振动态之间的跃迁。从主方程的刘维尔算符中识别出两个量子跳跃算符——一个对应于分子充电，另一个将分子放电回中性态。量子跳跃算符定义了条件概率：给定分子在时刻 $t$ 被隧穿电子充电，分子在稍后时刻 $t+\tau$ 放电将电子释放到漏电极而变为中性。利用该分布研究了这些时间间隔 $\tau$ 的统计性质。