计数量子跳跃：纳米器件电子输运中固定时间与涨落时间统计的综述与比较

在通过纳米尺度器件的量子输运中，涨落源于多种来源：载流子的离散性、器件工作所需的统计非平衡，以及不可避免的量子不确定性。随着过去十年实验技术的改进，对这些涨落的测量已成为可能。大量使用不同涨落统计描述量子输运的理论文献随之出现。本文中，我们概述了三种突出的涨落统计：全计数统计、等待时间统计和首次通过时间统计。我们讨论了它们的优缺点，并从更新理论的角度解释了它们之间的联系。特别地，我们讨论了当输运为非更新过程时，不同信息如何编码于不同统计中，以及这种行为如何在开放量子系统的实测物理量中显现。所有理论结果均通过一个示范性输运场景加以说明：具有电子-声子相互作用的分子电子结的马尔可夫主方程。我们证明，要获得非更新行为，从而让连续电子隧穿事件间存在时间关联，隧穿电子与处于非平衡状态的量子化分子振动之间必须有强耦合。