电压偏置诱导的全氧化物Pr0.5Ca0.5MnO3/SrTi0.95Nb0.05O3结的改性

Barnali Ghosh; K. Das; A. K. Raychaudhuri

doi:10.1063/1.3580507

电压偏置诱导的全氧化物Pr0.5Ca0.5MnO3/SrTi0.95Nb0.05O3结的改性

材料科学 2015-05-27 v1

作者: Barnali Ghosh , K. Das , A. K. Raychaudhuri

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摘要

本文报告了当原始氧化物结Pr0.5Ca0.5MnO3/SrTi0.95Nb0.05O3 (PCMO/Nb:STO) 经受中等值 (±4V) 的电压偏置循环时会发生什么。研究发现，初始循环导致形成一种永久性的低电阻状态，其中低电阻主要归因于器件薄膜 (PCMO) 上分流路径的形成。在随后的电压循环中，随着幅度的增加，该状态转变为连续更低电阻的状态，这些状态可以通过循环到低于某个偏置电压而转变回初始稳定状态。使用基于带分流p-n结的简单模型来获取关于电压循环下结变化的信息。研究表明，如果电压循环导致界面势垒降低以及串联电阻减小，则可以解释该观测结果。提出这种降低可能与结区氧离子和空位的迁移有关。结的横截面成像显示，在原始p-n结首次经历电压循环后，PCMO厚度方向形成了永久的丝状桥接，这将解释p-n结上出现有限分流的原因。

关键词

氧化物结电压循环电阻开关 p-n结氧空位迁移丝状导电

引用

@article{arxiv.1103.0884,
  title  = {Voltage bias induced modification of all oxide Pr0.5Ca0.5MnO3/SrTi0.95Nb.05O3 junctions},
  author = {Barnali Ghosh and K. Das and A. K. Raychaudhuri},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1103.0884},
  year   = {2015}
}

备注

12 pages,7figures

电压偏置诱导的全氧化物Pr0.5Ca0.5MnO3/SrTi0.95Nb0.05O3结的改性

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关键词

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