基于位置调制开尔文探针力显微镜的矢量电场测量
介观与纳米尺度物理
2017-10-30 v2
摘要
高质量的空间分辨电场测量对于理解半导体材料中的电荷注入、电荷传输和电荷捕获至关重要。本文报道了频率调制开尔文探针力显微镜（FM-KPFM）的一种变体，其能够实现电场的空间分辨测量。我们通过采用位置调制和锁相检测，并结合表面电势的数值微分，同时测量多个方向上的电场分量。通过在DPh-BTBT有机场效应晶体管中一处捕获电荷附近记录面内电场矢量的线扫描，展示了该技术。该技术易于实现，并且对于研究空间非均匀样品（如有机晶体管和光伏共混物）中的电场应特别有用。
引用
@article{arxiv.1710.06927,
title = {Vector Electric Field Measurement via Position-Modulated Kelvin Probe Force Microscopy},
author = {Ryan P. Dwyer and Louisa M. Smieska and Ali Moeed Tirmzi and John A. Marohn},
journal= {arXiv preprint arXiv:1710.06927},
year = {2017}
}
备注
5 pages, 4 figures, supplemental materials