更新的 $D \to PV$ 衰变分支比与 $CP$ 不对称性

受新高精度实验数据的广泛推动，我们在 factorization-assisted topological-amplitude（FAT）方法中对两体 charm 衰变 $D \to PV$（其中 $P =\pi,K, \eta^{(\prime)}$，$V =\rho, K^*, \omega, \phi$）进行了更新分析。在该框架中，纳入了 flavor SU(3) 对称性破坏效应，使得拓扑图的非可分离贡献可表示为通过实验数据全局拟合确定的最小通用参数集。感谢充足的高精度数据，我们现在能够量化所谓“可分离” $T$ 图的非可分离贡献，这对于解释观察到的分支比至关重要。$C$、$E$ 和 $A$ 图的参数也以显著提高的精度进行了更新，值得注意的是，结果得到的强相位与早期 FAT 分析的显著不同。我们发现，$C$ 拓扑幅在 charm 区间具有显著的非可分离效应。这些细化的参数使我们能够获得显著提高精度的预测，分支比与当前数据和最新结果在拓扑图方法中良好一致，预测的直接 $\mathit{CP}$ 不对称性由于更新后的强相位而与之前的 FAT 结果有显著不同。在几个模式中，$\mathit{CP}$ 不对称性可达 $\mathcal{O}(10^{-3})$，因此成为未来在 LHCb、BESIII 和 Belle II 等高精度实验中具有前景的可观测量。也提供了对未观察到的衰变模式的预测，尤其是分支比为 $10^{-4}\sim10^{-3}$ 量级的模式，以供未来的实验检验。