多通道 Kondo 效应的普适热纠缠
强关联电子
2021-12-06 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
杂质与其环境之间的量子纠缠有望成为量子杂质问题的核心。我们基于纠缠负度（entanglement negativity）和边界共形场论（BCFT）发展了一种计算自旋-1/2 杂质问题中纠缠的方法。利用该方法，我们研究了多通道 Kondo 效应中纠缠的热衰减。在零温下，纠缠具有与屏蔽通道数目无关的最大值。在低温下，纠缠呈现幂律热衰减。该幂律指数等于描述杂质自旋的 BCFT 边界算符的标度维数的两倍，这归因于能量本征态中纠缠的依赖于能量的标度行为。这些结果与数值重正化群结果一致，揭示了 Kondo 屏蔽长度内的量子相干性。
引用
@article{arxiv.2112.01678,
title = {Universal Thermal Entanglement of Multichannel Kondo Effects},
author = {Donghoon Kim and Jeongmin Shim and H. -S. Sim},
journal= {arXiv preprint arXiv:2112.01678},
year = {2021}
}