机器学习与实时反馈控制辅助的半导体衬底通用脱氧
介观与纳米尺度物理
2023-12-05 v1 机器学习
系统与控制
图像与视频处理
系统与控制
摘要
薄膜沉积是半导体工艺中的关键步骤。在制备或装载过程中,衬底不可避免地暴露于空气中,这促使人们研究在薄膜沉积前去除表面氧化物的过程控制。对于任意衬底,优化分子束外延中的脱氧过程是一个多维挑战,有时甚至存在争议。由于半导体材料和生长过程的差异,衬底脱氧温度的确定高度依赖于操作者的经验;同一衬底由不同操作者评估可能得出不一致的结果。在此,我们采用了一种混合卷积神经网络与视觉变换器的机器学习模型。该模型以反射高能电子衍射视频作为输入,输出衬底的脱氧状态,从而在受控架构下实现自动化的衬底脱氧。这还扩展到了其他衬底上脱氧过程的成功应用。此外,我们展示了在单台分子束外延设备上训练的数据所训练的模型,能够在其他设备上实现高精度部署的潜力。与传统方法相比,我们的方法具有特殊的实用价值。它标准化了不同设备和衬底材料下的脱氧温度,推进了半导体制备中的标准化研究进程,这是薄膜生长技术的一个重要里程碑。本工作所展示的概念和方法有望通过应用于多种材料生长过程,彻底改变光电子和微电子行业的半导体制造。
引用
@article{arxiv.2312.01662,
title = {Universal Deoxidation of Semiconductor Substrates Assisted by Machine-Learning and Real-Time-Feedback-Control},
author = {Chao Shen and Wenkang Zhan and Jian Tang and Zhaofeng Wu and Bo Xu and Chao Zhao and Zhanguo Wang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2312.01662},
year = {2023}
}
备注
5 figures