ρ 介子π介子质量依赖性的双圈分析

在超出低能区分析 $\pi\pi$ 散射相移的π介子质量依赖性，需要对手征微扰理论的振幅进行幺正化。在双味理论中，通过逆振幅法（IAM）的幺正化可由色散关系证明合理，因此预期能为格点 QCD 计算结果的π介子质量依赖性提供可靠预测。本工作中，我们给出了 IAM 次领头阶所需的 $J=0,1,2$ 双圈分波振幅的紧凑解析表达式。为分析近期格点 QCD 关于 $P$ 波结果的π介子质量依赖性，我们发展了一种拟合策略，首次使我们能够进行稳定的双圈 IAM 拟合并评估 IAM 方法手征收敛性。尽管相继阶的比较表明崩塌标度不低于 ρ 质量太多，但要获得可接受的拟合——尤其在较大π介子质量下——关键在于详细理解格点 QCD 数据的系统不确定性。