用于微波光子标定的二维Planck光谱法
量子物理
2025-02-28 v2
摘要
弱微波信号的量子态层析是超导电路量子信息处理领域中诸多协议的重要部分。该步骤通常依赖于对实验装置中信号损耗的准确原位估计，并需要细致的光子数标定。此处，我们提出一种用于封闭低温系统内微波损耗估计的改进方法。我们的方法基于Planck定律，并利用对低温装置各部件的独立温度扫描。使用此技术，我们能在实验中分辨低温环境下小于0.1 dB的微波损耗变化。我们讨论了该方法在量子极限超导放大器的精确表征及其他显著实验设置中的潜在应用。
引用
@article{arxiv.2308.02389,
title = {Two-dimensional Planck spectroscopy for microwave photon calibration},
author = {S. Gandorfer and M. Renger and W. K. Yam and F. Fesquet and A. Marx and R. Gross and K. G. Fedorov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2308.02389},
year = {2025}
}
备注
10 pages, 4 figures