超导微波谐振器测量的低温单端口校准
量子物理
2021-03-03 v1
摘要
超导电路测试与材料损耗表征需要稳健可靠的方法来提取微波谐振器的内部与耦合品质因数。由于器件设计或实验配置的限制，一种常用方法是单端口反射几何，即反射模式。然而，低温系统中的阻抗失配必须通过在其低温状态下对测量链进行校准来加以考虑。在本文中，我们展示了一种基于数据的单端口校准，使用商用微波标准件与矢量网络分析仪（VNA），样品置于稀释制冷机中的毫开尔文温度，使得该方法可用于量子现象的测量。最后，我们将基于数据的单端口校准与过耦合的 2D 和 3D 谐振器的反射测量，与成熟的两端口技术进行交叉比对，证实了该方法的有效性。
引用
@article{arxiv.2103.01491,
title = {Cryogenic single-port calibration for superconducting microwave resonator measurements},
author = {Haozhi Wang and S. Singh and C. R. H. McRae and J. C. Bardin and S. -X. Lin and N. Messaoudi and A. R. Castelli and Y. J. Rosen and E. T. Holland and D. P. Pappas and J. Y. Mutus},
journal= {arXiv preprint arXiv:2103.01491},
year = {2021}
}
备注
12 pages, 17 figures