非平面界面存在下的二维材料
介观与纳米尺度物理
2019-03-06 v1 材料科学
摘要
我们考虑一种位于两种具有不同介电常数的介质之间、且存在由非平面界面隔开的第三介电介质的平面二维系统。将 Clinton、Esrick 和 Sacks [Phys. Rev. B, 31, 7540 (1985)] 提出的用于求解非平面导电边界存在下泊松方程的一种微扰方法，推广到本文所设情形，我们得到了定义非平面界面的函数的一阶近似下，该平面二维系统的有效势、有效静电场、有效介电常数，以及作用于二维系统内平面的有效外场。讨论了结果对二维系统性质的影响。在平面表面、真空-介电或真空-导电介质的极限下，我们的结果与文献中的结果一致。
引用
@article{arxiv.1810.08939,
title = {Two-dimensional materials in the presence of nonplanar interfaces},
author = {Danilo T. Alves and N. M. R. Peres},
journal= {arXiv preprint arXiv:1810.08939},
year = {2019}
}
备注
15 pages, 10 figures