含动量耗散的拓扑缺陷形成

我们采用全息技术研究在强耦合超导体经温度线性淬火后的临界动力学中，动量耗散对拓扑缺陷形成的影响。其引力对偶为 dRGT 质量引力，其中边界场论中动量的守恒因体引力子质量的存在而被破坏。从缺陷数目与“冻结”时间对各类引力子质量的淬火速率的标度关系出发，我们表明相较于 Kibble-Zurek 机制，引力子质量诱导的动量耗散对标度律影响甚微。受凝聚态中 Pippard 公式的启发，我们提出相干长度与引力子质量之间的解析关系，其与准正则模分析的数值结果吻合良好。结果表明，相干长度随引力子质量增大而减小，这意味着动量耗散将增加拓扑缺陷的数目。