分数量子霍尔边缘上散粒噪声的拓扑分类
介观与纳米尺度物理
2019-10-01 v2
摘要
分数量子霍尔边缘上的电输运与热输运由对应体态继承的拓扑量决定。尽管电输运是研究边缘的标准方法，热输运显得更具挑战性。在此，我们表明边缘上产生的散粒噪声提供了一种完全电学的方法来探测边缘结构。在非相干 regime 下，噪声落入三个拓扑不同的普适类：电荷输运总是弹道的，而热输运或是弹道、扩散或“反弹道”的。相应地，噪声要么消失，要么随边缘长度代数衰减，要么在指数小修正下保持恒定。
引用
@article{arxiv.1906.05623,
title = {Topological classification of shot noise on fractional quantum Hall edges},
author = {Christian Spånslätt and Jinhong Park and Yuval Gefen and Alexander D. Mirlin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1906.05623},
year = {2019}
}
备注
Published version: 6+7 pages, 3+3 figures