基于 Dilepton 事件测量顶夸克质量
高能物理 - 实验
2012-08-27 v2
摘要
我们报告了使用 CDF II 探测器从能量为 TeV 的 pp 反子碰撞中收集的事件测量顶夸克质量。我们计算了一个针对顶夸克质量的似然函数,用于与 衰变一致的事件。该似然由领先阶矩阵元与探测器分辨率函数的卷积构成。对 33 个在 340 pb 积分强度收集的事件的联合似然是每个事件似然函数的乘积,得到顶夸克质量 (统计)(系统)GeV/。这一首次将矩阵元技术应用于 衰变的测量,给出了 dilepton 事件中最精确的单一测量值。结合其他 CDF Run II 使用 dilepton 事件的测量,我们测得 (统计)(系统)GeV/。
引用
@article{arxiv.hep-ex/0512070,
title = {Top Quark Mass Measurement from Dilepton Events at CDF II},
author = {CDF Collaboration},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0512070},
year = {2012}
}
备注
7 pages, 2 figures, To be published in Phys. Rev. Lett. Replacement includes minor revisions made prior to acceptance by journal