基于矩阵元方法的 Dilepton 事件中顶夸子质量测量

我们描述了一种使用来自 CDF II 检测器从 $p\bar{p}$ 碰撞中收集的两个带电夸子事件测量顶夸子质量的方法，这些碰撞在 $\sqrt s = 1.96$ TeV 的费米子实验室 Tevatron 进行。在每个事件中，通过将描述 $q\bar{q} \to t\bar{t} \to b\ell\nu_{\ell}\bar{b}\ell'\nu_{\ell'}$ 的领先阶矩阵元与探测器分辨率函数卷积来计算顶夸子质量的似然值。在数据样本中加入背景事件的模型化是通过使用描述主要背景过程的矩阵元进行类似计算来实现的。在集成亮度为 340 pb$^{-1}$ 的数据样本中，我们观察到 33 个候选事件，并测得 $M_{top} = 165.2 \pm 6.1(\textrm{统计}) \pm 3.4(\textrm{系统}) \mathrm{~GeV}/c^2.$ 该测量是本方法首次应用于两个带电夸子事件，是该通道最精确的单一顶夸子质量测量。