利用截面约束测量 Tevatron 双轻子事例中的顶夸克质量
高能物理 - 实验
2010-05-12 v1
摘要
我们报告了首次利用截面约束来提高质量测定精度的顶夸克质量测量结果。该测量是使用 CDF II 探测器收集的双轻子 事例样本进行的。在对应于 1.2 fb 积分亮度的数据样本中，我们测得顶夸克质量为 。不使用截面约束的测量得到的顶夸克质量为 。
引用
@article{arxiv.0710.4037,
title = {Cross Section Constrained Top Quark Mass Measurement from Dilepton Events at the Tevatron},
author = {CDF Collaboration and T. Aaltonen},
journal= {arXiv preprint arXiv:0710.4037},
year = {2010}
}
备注
submitted to Phys. Rev. Lett