q-Deformed 统计力学中的 Thomas-Fermi 屏蔽长度

用于研究 q-Deformed 统计力学中费米子的 Thomas-Fermi 屏蔽长度。考虑线性响应，在弱非耗尽 regime 下进行计算。结果表明，q-Deformation 在高温下对屏蔽长度有显著影响。还指出，q-Deformation 效应在零温极限下消失。可以发现，更高阶的 deformatio 修正项对屏蔽长度的影响更大。屏蔽长度的行为随 q 的不同值而异。