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通过应变工程增强外延 α-Sn 薄膜的热稳定性

材料科学 2019-12-10 v1 应用物理

摘要

探索具有大拓扑非平庸能隙且组分简单的新型拓扑材料,对理论研究和实验实现均有吸引力。近来 α-Sn(灰锡)被预测为此类候选材料,并可通过施加适当应变调谐为拓扑绝缘体或 Dirac 半金属。然而,自由 standing 的 α-Sn 仅在 13.2 {\deg}C 以下稳定。本研究通过分子束外延(MBE)在 InSb 衬底上成功生长了一系列不同厚度的优质 α-Sn 薄膜。经 X 射线衍射(XRD)和倒易空间映射(RSM)确认,所有薄膜在厚度达 4000 {\AA} 时仍完全应变,证明了来自衬底的应变效应。值得注意的是,200 {\AA} 厚样品的单晶 α 相可维持至 170 {\deg}C。α 相消失的临界温度随膜厚增加而降低,表明热稳定性可通过改变 α-Sn 厚度进行调控。我们引入考虑加工硬化的塑性流动模型解释此依赖关系,假设应变弛豫与相变依次发生。此增强的热稳定性是该材料体系高于室温表征与应用的先决条件。

关键词

引用

@article{arxiv.1905.12519,
  title  = {Thermal Stability Enhancement in Epitaxial {\alpha}-Sn Films by Strain Engineering},
  author = {Huanhuan Song and Jinshan Yao and Yuanfeng Ding and Yu Gu and Yu Deng and Ming-Hui Lu and Hong Lu and Yan-Feng Chen},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1905.12519},
  year   = {2019}
}

备注

21 pages, 4 figures, 1 table