环境条件下小振幅双模原子力显微镜理论
介观与纳米尺度物理
2014-01-30 v1
摘要
动态原子力显微镜中的小振荡振幅可导致侵入性且高分辨率的成像。在此,我们在环境条件的背景下讨论小振荡振幅成像,并同时激发第二弯曲模式以访问对样品性质变化敏感的对比通道。讨论了两种物理上不同的操作机制:一种是针尖在水合层上方振荡,另一种是针尖与水合层保持永久接触。研究表明,用户可以通过标准操作参数控制待探测区域。随后建立了控制第二模式相移对成分变化敏感性的基础理论。第二模式相移由保守的针尖 - 样品相互作用、模式间的能量转移以及针尖 - 样品结中不可逆的能量损失之间的相互作用所控制。
引用
@article{arxiv.1401.6687,
title = {Theory of small amplitude bimodal atomic force microscopy in ambient conditions},
author = {Sergio Santos},
journal= {arXiv preprint arXiv:1401.6687},
year = {2014}
}
备注
27 pages, 11 figures