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石墨烯中缺陷诱导的 Kondo 效应理论:Zeeman 场的影响

介观与纳米尺度物理 2015-06-12 v2 材料科学 强关联电子

摘要

研究了 Zeeman 场对石墨烯中缺陷诱导的 Kondo 效应的影响。推导了 Kondo 效应的有效模型,并基于数值重正化群方法进行了分析。研究发现,在 Zeeman 场下,处于自旋极化态和 Kondo-Yosida 单重态的边界处,存在一个不寻常的不动点,其中缺陷的熵为 kBln2k_B \ln2,且 Sz2S^2_z 的期望值为 1/81/8

关键词

引用

@article{arxiv.1212.0942,
  title  = {Theory of Defect-Induced Kondo Effect in Graphene: Effect of Zeeman Field},
  author = {Taro Kanao and Hiroyasu Matsuura and Masao Ogata},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1212.0942},
  year   = {2015}
}

备注

Proceedings of the 20th International Conference on High Magnetic Fields in Semiconductor Physics. To be published in J. Phys.: Conf. Ser. One reference is added