石墨烯中缺陷诱导的 Kondo 效应:$\pi$ 电子局域态的作用
强关联电子
2015-05-20 v1 材料科学
摘要
我们通过数值重正化群研究,讨论了存在于缺陷周围的局域 轨道对石墨烯中缺陷诱导 Kondo 效应的作用。我们发现局域 轨道促进了该 Kondo 效应,且 Kondo 温度对局域 轨道的展宽敏感。其次,我们关注该 Kondo 效应的负磁阻。在实验结果中,已表明该负磁阻比通常的 Kondo 效应大十倍。为了阐明这种“磁敏感”Kondo 效应的机制,作为第一步,我们利用带有 Peierls 相的紧束缚模型研究了局域 轨道的轨道磁场依赖性。我们发现,随着磁场增加,局域 轨道的谱宽增加,费米能级处的局域态密度降低。由于 Kondo 温度强烈依赖于局域 轨道的展宽,预期该 Kondo 效应对轨道磁场敏感,这与实验观察一致。
引用
@article{arxiv.1501.06688,
title = {Defect-Induced Kondo Effect in graphene: Role of Localized State of $\pi$ Electrons},
author = {Taro Kanao and Hiroyasu Matsuura and Masao Ogata},
journal= {arXiv preprint arXiv:1501.06688},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 6 figures. To be published in J. Phys. Conf. Series