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石墨烯中缺陷诱导的 Kondo 效应:$\pi$ 电子局域态的作用

强关联电子 2015-05-20 v1 材料科学

摘要

我们通过数值重正化群研究,讨论了存在于缺陷周围的局域 π\pi 轨道对石墨烯中缺陷诱导 Kondo 效应的作用。我们发现局域 π\pi 轨道促进了该 Kondo 效应,且 Kondo 温度对局域 π\pi 轨道的展宽敏感。其次,我们关注该 Kondo 效应的负磁阻。在实验结果中,已表明该负磁阻比通常的 Kondo 效应大十倍。为了阐明这种“磁敏感”Kondo 效应的机制,作为第一步,我们利用带有 Peierls 相的紧束缚模型研究了局域 π\pi 轨道的轨道磁场依赖性。我们发现,随着磁场增加,局域 π\pi 轨道的谱宽增加,费米能级处的局域态密度降低。由于 Kondo 温度强烈依赖于局域 π\pi 轨道的展宽,预期该 Kondo 效应对轨道磁场敏感,这与实验观察一致。

关键词

引用

@article{arxiv.1501.06688,
  title  = {Defect-Induced Kondo Effect in graphene: Role of Localized State of $\pi$ Electrons},
  author = {Taro Kanao and Hiroyasu Matsuura and Masao Ogata},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1501.06688},
  year   = {2015}
}

备注

10 pages, 6 figures. To be published in J. Phys. Conf. Series