X 射线回声光谱仪的理论与光学设计
光学
2017-08-04 v4 仪器与探测器
摘要
X 射线回声光谱学作为中子自旋回声的空间域对应技术，是一种最近提出的非弹性 X 射线散射（IXS）技术。X 射线回声光谱学依赖于对 IXS 光谱进行成像，且不需要 X 射线单色化。因此，回声型 IXS 光谱仪是宽带的，与传统窄带扫描型 IXS 光谱仪相比，有望同时提供显著增强的信号强度、缩短的测量时间以及更高的分辨率。文献 [1] 中提出的 X 射线回声光谱仪理论在此得到进一步发展，重点关注具有实际重要性的问题，这将有助于回声光谱仪的光学设计及其可行性与性能评估。其中包括以下问题：光谱分辨率、重聚焦条件、回声光谱仪容差、重聚焦条件调整、样品上的有效光束尺寸、成像与扫描范围的光谱窗口、次级光源尺寸对光谱分辨率的影响、角色散光学、聚焦与准直光学以及探测器的空间分辨率。本文还给出了分辨率为 1-meV 和 0.1-meV 的回声光谱仪的光学设计示例及其特性。
引用
@article{arxiv.1704.01239,
title = {Theory and optical design of x-ray echo spectrometers},
author = {Yuri Shvyd'ko},
journal= {arXiv preprint arXiv:1704.01239},
year = {2017}
}
备注
22 pages, 13 Figures, 5 tables. arXiv admin note: text overlap with arXiv:1511.01526