利用X射线回波谱仪对非弹性散射谱进行无像差成像
仪器与探测器
2019-05-29 v3 天体物理仪器与方法
摘要
我们研究了利用X射线回波谱仪对非弹性X射线散射(IXS)谱进行无像差成像的条件。无像差成像对于实现高分辨率和高对比度的仪器函数至关重要。计算光线追迹被应用于对一台使用9 keV X射线工作、分辨率为0.1 meV/0.07 nm的回波型IXS谱仪的透彻分析。我们表明,由采用透镜作为准直和聚焦光学器件的X射线回波谱仪所成像的IXS谱是无像差的。当使用掠入射反射镜(抛物面、抛物型Kirkpatrick-Baez或抛物型Montel)代替透镜时,成像系统呈现出某种依赖于非弹性能量转移的去焦像差。然而,无像差图像仍可在相对于光轴倾斜的平面上记录。因此,这种畸变可通过适当倾斜X射线成像探测器来完全补偿,同时提高其空间分辨率。对来自真实样品的IXS谱成像的完整模拟展示了所提出设计的优异性能。
引用
@article{arxiv.1812.06969,
title = {Aberration-free imaging of inelastic scattering spectra with x-ray echo spectrometers},
author = {Manuel Sánchez del Río and Yuri Shvyd'ko},
journal= {arXiv preprint arXiv:1812.06969},
year = {2019}
}
备注
20 pages, 15 fgures, 6 tables