利用非弹性X射线散射研究晶体中的声子
材料科学
2009-11-02 v1
摘要
利用非弹性X射线散射（IXS）研究晶体中的声子及声子色散，开启了声子光谱学领域，使得对微小样品（微克量级的材料，或直径约10至100微米的单晶）的测量成为可能。本文回顾了在兵库县SPring-8的BL35XU光束线上实践该技术的现状。我们为潜在的IXS用户提供了入门介绍，强调了该技术的独特优势。文中讨论了当前工作（包括若干示例实验）及未来方向。
引用
@article{arxiv.0910.5764,
title = {Phonons in Crystals using Inelastic X-Ray Scattering},
author = {Alfred Q. R. Baron},
journal= {arXiv preprint arXiv:0910.5764},
year = {2009}
}
备注
English version of a paper in Japanese