利用共振非弹性 X 射线散射观测声子
强关联电子
2011-01-25 v1
摘要
声子是晶格振动的量子力学表示，其与电子自由度的耦合对于理解材料的热学和电学性质至关重要。首次利用共振非弹性 X 射线散射 (RIXS) 在氧化铜 (CuO) 的 Cu K 吸收边测量了声子。利用超短核心空穴寿命近似和精确对角化技术分析这些谱，我们能够解释其本质的非弹性特征。相对谱强度与电子-声子耦合强度有关。
关键词
引用
@article{arxiv.1009.4356,
title = {Observation of phonons with resonant inelastic x-ray scattering},
author = {H. Yavas and M. van Veenendaal and J. van den Brink and L. J. P. Ament and A. Alatas and B. M. Leu and M. -O. Apostu and N. Wizent and G. Behr and W. Sturhahn and H. Sinn and E. E. Alp},
journal= {arXiv preprint arXiv:1009.4356},
year = {2011}
}
备注
11 pages, 3 figures